北京邮电大学学报

  • EI核心期刊
光导薄膜光学参数的测量——椭偏术双入射角法
张祖妤
北京邮电大学学报 . 1985, (2): 21 -28 . 

版权所有 © 2018 《北京邮电大学学报》编辑部 京ICP备14033833号     在线人数：今日访问 当前在线 总访问

通信地址：北京市海淀区西土城路10号北京邮电大学195信箱    邮编：100876    电话：(010)62281995    QQ：307514248    微博    留言    电子邮箱：byxb@bupt.edu.cn